激光粒度仪是测量粒径分布的常用工具之一。它的核心原理基于激光散射。当一束激光照射到颗粒上时,颗粒会散射光线,散射的强度和角度与颗粒的大小密切相关。通过测量散射光的强度和角度,激光粒度仪能够精确计算出颗粒的粒径分布。德国新帕泰克有限公司的激光粒度仪就是一个典型的例子,它采用Mie散射理论,能够测量从亚微米到微米的颗粒,广泛应用于粉体工程领域。
激光粒度仪的工作流程十分精妙。首先,激光器产生一束单色、单向的激光束,照射到待测样品中的微观颗粒上。接着,仪器中的光散射探测器测量颗粒对激光的散射光强度。通过复杂的数学模型分析散射光的强度和角度数据,得到颗粒的粒径分布曲线。这项技术不仅精度高,而且测量速度快,是科研和工业领域不可或缺的工具。
在纳米科技领域,粒径的测量变得更加精细和复杂。纳米粒度仪通常采用动态光散射的原理。它通过测量纳米颗粒的布朗运动导致的散射光的波动来实现粒径的检测。小颗粒的布朗运动速度快,使得散射光波动快;大颗粒的布朗运动速度慢,导致散射光波动慢。这种波动信号被光电探测器接收,并输送到仪器内的相关器进行数据处理,最终得到各项测试结果。
纳米粒度仪的核心器件包括光电探测器,目前主流的探测器有两种:PMT光电倍增管和雪崩光电探测器APD。PMT光电倍增管技术成熟,但灵敏度稍低;APD则具有全固态结构,量子效率高,能够在高增益下保持良好的信噪比。这些先进的技术确保了纳米粒度仪在测量微小颗粒时的精准度。
费氏法平均粒度测试仪是一种基于传统费氏方法的仪器,它通过测量粉末在特定压力下的沉降速度来推断颗粒的大小。这种方法的原理是:颗粒在液体中沉降的速度与其大小有关,颗粒越大,沉降速度越快。通过精确控制沉降时间和距离,可以计算出颗粒的平均粒径。
DP-WLP-209型平均粒度测试仪是费氏法的一种现代应用。它采用可设定空转式扭矩起子,确保在对粉末测试过程中施加相同的压制力,从而得到一致的孔隙度,消除了人为误差。这种仪器精度高,测试范围广,适用于多种粉末测试需求,是化工领域的重要工具。
在液体喷雾领域,喷雾粒度分析仪是专门设计用于测量雾滴粒径分布的仪器。它利用颗粒对光的散射现象,根据散射光能的分布推算被测颗粒的粒度分布。DP-02喷雾粒度分析仪就是一个典型的例子,它能够测量1-1500微米的粒度分布,重复性误差小于3%,测试时间仅需1-2分钟。
这种仪器的光源通常采用He-Ne激光器,具有单色性好、相干性高、发散角小、稳定性强等优点。它还配备了多种焦距的傅立叶透镜,以实现不同测试量程的转换。此外,它还包括手动微调和智能自动对中功能,确保测量的重复性和准确性。喷雾粒度分析仪在汽车、航空航天、制药等领域有着广泛的应用。
离心式纳米粒度分析仪是一种基于颗粒在离心力作用下的沉降速度与颗粒大小之间关系的仪器。它通过测量颗粒的沉降速度来推断颗粒的大小,从而得到颗粒粒径的精确分布。CN-300离心式纳米粒度分析仪就是日本HORIBA公司的一款产品,它具有分辨率高、重复性好等特点,能够实现对未稀释和稀释样品粒径分布的高精度测试。
这种仪器的应用领域非常广泛,包括半导体(CMP浆料)、功能纳米材料(碳纳米管、先进碳材料、纳米纤维素)、颜料、油墨(染料、墨粉悬浮液)、能源(电池材料)等。它不仅能够测量粒径分布,还能捕捉少量杂质颗粒或团聚体,为科研和工业提供了强大的工具。
测粒径和PDI的仪器多种多样,每种仪器都有其独特的原理和应用场景。从
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发布时间:2025-05-30 作者:产品中心纳米科技的世界里,粒径的精确测量是决定材料性能的关键。你是否曾好奇,那台神秘的仪器究竟是如何将微小的颗粒大小展现得如此清晰?测粒径和PDI的仪器叫什么?答案并非单一,而是涵盖了多种先进技术,它们在科研、工业等领域扮演着不可或缺的角色。本文将带你深入探索这些仪器的世界,揭开它们背后的科学原理和应用场景。
激光粒度仪是测量粒径分布的常用工具之一。它的核心原理基于激光散射。当一束激光照射到颗粒上时,颗粒会散射光线,散射的强度和角度与颗粒的大小密切相关。通过测量散射光的强度和角度,激光粒度仪能够精确计算出颗粒的粒径分布。德国新帕泰克有限公司的激光粒度仪就是一个典型的例子,它采用Mie散射理论,能够测量从亚微米到微米的颗粒,广泛应用于粉体工程领域。
激光粒度仪的工作流程十分精妙。首先,激光器产生一束单色、单向的激光束,照射到待测样品中的微观颗粒上。接着,仪器中的光散射探测器测量颗粒对激光的散射光强度。通过复杂的数学模型分析散射光的强度和角度数据,得到颗粒的粒径分布曲线。这项技术不仅精度高,而且测量速度快,是科研和工业领域不可或缺的工具。
在纳米科技领域,粒径的测量变得更加精细和复杂。纳米粒度仪通常采用动态光散射的原理。它通过测量纳米颗粒的布朗运动导致的散射光的波动来实现粒径的检测。小颗粒的布朗运动速度快,使得散射光波动快;大颗粒的布朗运动速度慢,导致散射光波动慢。这种波动信号被光电探测器接收,并输送到仪器内的相关器进行数据处理,最终得到各项测试结果。
纳米粒度仪的核心器件包括光电探测器,目前主流的探测器有两种:PMT光电倍增管和雪崩光电探测器APD。PMT光电倍增管技术成熟,但灵敏度稍低;APD则具有全固态结构,量子效率高,能够在高增益下保持良好的信噪比。这些先进的技术确保了纳米粒度仪在测量微小颗粒时的精准度。
费氏法平均粒度测试仪是一种基于传统费氏方法的仪器,它通过测量粉末在特定压力下的沉降速度来推断颗粒的大小。这种方法的原理是:颗粒在液体中沉降的速度与其大小有关,颗粒越大,沉降速度越快。通过精确控制沉降时间和距离,可以计算出颗粒的平均粒径。
DP-WLP-209型平均粒度测试仪是费氏法的一种现代应用。它采用可设定空转式扭矩起子,确保在对粉末测试过程中施加相同的压制力,从而得到一致的孔隙度,消除了人为误差。这种仪器精度高,测试范围广,适用于多种粉末测试需求,是化工领域的重要工具。
在液体喷雾领域,喷雾粒度分析仪是专门设计用于测量雾滴粒径分布的仪器。它利用颗粒对光的散射现象,根据散射光能的分布推算被测颗粒的粒度分布。DP-02喷雾粒度分析仪就是一个典型的例子,它能够测量1-1500微米的粒度分布,重复性误差小于3%,测试时间仅需1-2分钟。
这种仪器的光源通常采用He-Ne激光器,具有单色性好、相干性高、发散角小、稳定性强等优点。它还配备了多种焦距的傅立叶透镜,以实现不同测试量程的转换。此外,它还包括手动微调和智能自动对中功能,确保测量的重复性和准确性。喷雾粒度分析仪在汽车、航空航天、制药等领域有着广泛的应用。
离心式纳米粒度分析仪是一种基于颗粒在离心力作用下的沉降速度与颗粒大小之间关系的仪器。它通过测量颗粒的沉降速度来推断颗粒的大小,从而得到颗粒粒径的精确分布。CN-300离心式纳米粒度分析仪就是日本HORIBA公司的一款产品,它具有分辨率高、重复性好等特点,能够实现对未稀释和稀释样品粒径分布的高精度测试。
这种仪器的应用领域非常广泛,包括半导体(CMP浆料)、功能纳米材料(碳纳米管、先进碳材料、纳米纤维素)、颜料、油墨(染料、墨粉悬浮液)、能源(电池材料)等。它不仅能够测量粒径分布,还能捕捉少量杂质颗粒或团聚体,为科研和工业提供了强大的工具。
测粒径和PDI的仪器多种多样,每种仪器都有其独特的原理和应用场景。从